階梯試塊CBI可用來制作雙晶探頭距離-波幅特性曲線|啟航檢測科技（上海）有限公司大量庫存，價(jià)格特優(yōu)，供應(yīng)，啟航科技還可以根據(jù)客戶的要求定制，

階梯平底試塊（CBI試塊）依據(jù)NB/T47013-2015承壓設(shè)備無損檢測標(biāo)準(zhǔn)，適用于用雙晶直探頭檢測厚度不大于20mm的板材，還可用來制作雙晶探頭距離-波幅特性曲線。

• 標(biāo)準(zhǔn)： NB/T47013-2015承壓設(shè)備無損檢測標(biāo)準(zhǔn)

階梯平底試塊依據(jù)NB/T47013-2015承壓設(shè)備無損檢測標(biāo)準(zhǔn)，適用于用雙晶直探頭檢測厚度不大于20mm的板材，還可用來制作雙晶探頭距離-波幅特性曲線。

階梯平底試塊（CBI試塊）是依據(jù)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)，用于超聲檢測的一種對(duì)比試塊，在承壓設(shè)備板材超聲檢測等方面有重要作用。以下是具體介紹：

• 適用范圍：根據(jù)NB/T 47013.3-2023《承壓設(shè)備無損檢測 第3部分：超聲檢測》，CBI試塊適用于用雙晶直探頭檢測厚度6mm - 20mm的承壓設(shè)備用板材。

• 結(jié)構(gòu)特點(diǎn)：CBI試塊為階梯狀，帶有平底孔。其參考反射體為φ5mm平底孔，且反射體個(gè)數(shù)至少為3個(gè)。這樣的設(shè)計(jì)便于通過不同階梯位置的平底孔反射波，來校準(zhǔn)和評(píng)估超聲檢測設(shè)備在不同厚度下的檢測性能。

• 使用方法：在檢測時(shí)，將雙晶直探頭置于試塊上，通過試塊上的平底孔反射波來調(diào)整儀器的靈敏度等參數(shù)。例如，用與工件等厚部位試塊的*次底面回波調(diào)整到滿刻度的50%，再提高10dB，并在考慮相關(guān)補(bǔ)償后以此作為基準(zhǔn)靈敏度。也可用被檢板材無缺陷完好部位調(diào)節(jié)，用被檢板材的*次底面回波調(diào)整到滿刻度的50%，再提高10dB作為基準(zhǔn)靈敏度。通過CBI試塊校準(zhǔn)后的超聲檢測設(shè)備，可用于對(duì)相應(yīng)厚度范圍的板材進(jìn)行超聲檢測，以發(fā)現(xiàn)板材中的缺陷等問題。

測試方法：（1）選擇與檢測板等厚或大于檢測板厚的階梯，將探頭置于所選擇的的臺(tái)階上，調(diào)節(jié)儀器是*次底波調(diào)整至滿刻度的50%，在提高10dB，作為基準(zhǔn)靈敏度，在基準(zhǔn)靈敏度的基礎(chǔ)上再增益6dB作為檢測靈敏度。

（2）此試塊還可用來制作雙晶探頭距離-波幅特性曲線。將選用已校驗(yàn)好的直探頭置于示意圖1中a位置，前后左右移動(dòng)探頭使直射聲束在平面上得到*反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的50%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為*點(diǎn)。探頭置于示意圖1中b位置，前后左右移動(dòng)探頭使直射聲束在平面上得到*反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的50%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為第二點(diǎn)。探頭置于示意圖1中c位置，前后左右移動(dòng)探頭使直射聲束在平面上得到*反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的50%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為第三點(diǎn)。以此類推記錄探頭有效檢測范圍內(nèi)所有點(diǎn)，將以上各點(diǎn)連成一條曲線即為標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的雙晶直探頭距離波幅特性曲線。